手持式礦石分析儀憑借便攜、快速的特點，廣泛用于礦石現(xiàn)場元素檢測與品位分析，檢測結果的精準度與樣品的預處理、檢測前準備及樣品本身特性密切相關。為保障檢測數(shù)據(jù)準確、避免儀器損壞，需嚴格遵循以下樣品檢測要求，覆蓋樣品采集、預處理、檢測適配性等全環(huán)節(jié)：
一、樣品采集基礎要求
采樣需保證代表性，針對礦體、礦脈不同位置多點采集，避免單一位置采樣導致檢測結果偏差，混合樣品需充分拌勻，確保檢測樣本能反映礦石實際元素含量。
采集的礦石樣品需避免被污染，禁止用含待測元素的工具接觸樣品，防止油污、泥土、金屬碎屑等雜質(zhì)附著，采集后及時用干凈密封容器存放。
樣品粒徑與重量滿足檢測基礎需求，現(xiàn)場快速檢測樣品重量建議不低于 50g，實驗室預處理樣品可根據(jù)需求調(diào)整，避免樣品量過少導致檢測無有效數(shù)據(jù)。
二、樣品預處理核心要求
(一)表面清理與除雜
檢測前必須去除樣品表面的泥土、粉塵、銹跡、油污等雜質(zhì)，可用干凈毛刷、壓縮空氣吹掃表面浮塵，油污可用無水乙醇擦拭并自然風干，避免雜質(zhì)遮擋檢測區(qū)域、干擾元素信號。
若樣品表面有氧化層(如鐵礦石、銅礦石的氧化面)，需用砂紙(80-240 目)打磨至新鮮基體暴露，氧化層會影響 X 射線穿透，導致輕元素檢測結果偏低。
(二)樣品形態(tài)處理
塊狀樣品：需保證檢測面平整、無孔洞、無裂紋，打磨后使檢測面面積不小于儀器檢測窗口(通常≥Φ10mm)，避免檢測窗口與樣品接觸不緊密，出現(xiàn)漏光、信號衰減；塊狀樣品無尖銳棱角，防止劃傷儀器檢測窗口晶體。
粉狀 / 細粒樣品：需進行壓片處理(建議用壓片機壓制成直徑≥15mm、厚度≥3mm 的圓片)，或裝入專用樣品杯并鋪平整，禁止直接將粉末撒在檢測窗口檢測，防止粉末進入儀器內(nèi)部造成光路堵塞、元件損壞，同時避免粉末散射導致檢測數(shù)據(jù)波動。
碎屑 / 不規(guī)則小塊樣品：將樣品裝入專用樣品杯，填充密實、表面抹平，確保檢測窗口與樣品充分接觸，無空隙，若樣品量少，可搭配專用填充劑(不含待測元素)使用。
(三)特殊樣品處理
潮濕樣品：需先進行干燥處理(自然風干或低溫烘干，溫度≤60℃)，樣品含水率過高會吸收 X 射線，導致檢測結果偏低，且水分可能滲入儀器內(nèi)部，損壞電路元件。
含揮發(fā)性成分樣品：檢測前需進行預處理去除揮發(fā)性物質(zhì)，防止檢測過程中揮發(fā)性氣體逸出，影響檢測環(huán)境，同時避免成分流失導致數(shù)據(jù)失真。
高放射性礦石樣品：需做好防護處理，檢測時保持安全距離，避免放射性物質(zhì)對儀器和操作人員造成損害，此類樣品建議在專業(yè)防護環(huán)境下檢測。
三、檢測前樣品與儀器適配要求
樣品溫度需與環(huán)境溫度保持一致(常溫 15-35℃)，禁止檢測高溫樣品(溫度>50℃)，高溫會損壞儀器檢測窗口的超薄晶體，同時高溫環(huán)境會干擾 X 射線探測器的正常工作。
樣品無強磁性，強磁性礦石會吸附儀器內(nèi)部金屬部件，干擾檢測光路，導致數(shù)據(jù)偏差，甚至損壞探測器，強磁性樣品需先進行消磁處理再檢測。
檢測前確認樣品無腐蝕性，禁止直接檢測強酸、強堿或含腐蝕性成分的礦石樣品，此類樣品需進行中和、密封處理，防止腐蝕儀器檢測窗口和外殼。
四、批量 / 連續(xù)檢測樣品要求
連續(xù)檢測不同類型礦石樣品時，需對儀器檢測窗口進行清潔(用無塵紙輕輕擦拭)，防止前一樣品的粉塵、碎屑殘留，造成交叉污染，影響后續(xù)檢測結果。
批量檢測的樣品需做好標識，按順序擺放，每一樣品的檢測面統(tǒng)一處理標準，避免因預處理差異導致數(shù)據(jù)無對比性。
檢測過程中若樣品出現(xiàn)脫落、粉末散落，立即停止檢測，清理儀器后再繼續(xù)，防止雜質(zhì)進入儀器內(nèi)部。
五、其他特殊檢測要求
手持式礦石分析儀檢測輕元素(如 C、S、Si、Al 等) 時，樣品預處理需更精細，檢測面需打磨至鏡面效果，且樣品厚度足夠(塊狀樣品≥5mm，壓片樣品≥3mm)，減少輕元素 X 射線的穿透損失，提升檢測精度。
若需檢測礦石中痕量元素，樣品需進行富集處理，或選擇儀器的痕量檢測模式，同時保證樣品無背景干擾，避免低含量元素信號被掩蓋。
現(xiàn)場野外檢測時，樣品需做好防風、防水處理，檢測面避免被雨水、灰塵污染，同時保證儀器與樣品接觸穩(wěn)定，無晃動。
